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一、CMP到底是干嘛的?為什么半導體離不開它?
CMP = Chemical Mechanical Polishing(化學機械拋光),也叫化學機械平坦化。

簡單說:它就是半導體制造里的“磨地板神器”。
現在芯片都是多層布線(10層、20層金屬很常見),每做完一層介質(氧化物或Low-k),表面都會高低不平,下一層金屬填進去會出各種問題。CMP就是要把這層“地板”磨得跟鏡子一樣平(全局平坦度做到幾納米以內),否則后面光刻、對準、填金屬全完蛋。
沒有CMP,90nm以下工藝根本玩不下去,它是實現多層互連的絕對核心工藝。
二、CMP到底在磨什么?典型應用場景
STI CMP(淺溝槽隔離)
填完HDP氧化物后,把多余的氧化物磨掉,只留下溝槽里的部分,形成隔離。
聚硅柵CMP(Gate Last工藝里常用)
高K金屬柵時代,常用Replacement Metal Gate,磨掉多余金屬和聚硅。
ILD CMP(層間介質拋光)
每層金屬前的氧化物平坦化,最常見的。
銅互連CMP(Damascene工藝核心)
最復雜、最賺錢的CMP!
電鍍完厚厚一層銅后,先把凸出來的銅全部磨掉(銅清除),停在阻擋層(Ta/TaN)上;然后再把阻擋層和部分介質一起磨掉(Barrier CMP),最終形成平坦的銅線。
W-CMP(鎢栓拋光
早年接觸孔、Via用鎢填,現在還會在某些地方用到。
新材料CMP
如Co(鈷互連)、Ru(釕)、Mo(鉬)、SiGe、III-V族等等,先進節點越來越多。

三、CMP的原理:化學 + 機械 雙管齊下
別看就叫一個“拋光”,其實是化學腐蝕 + 機械磨除同時進行:
拋光液(Slurry)里含有: 氧化劑(H?O?最常見)→ 把銅氧化成CuO/Cu?O,變軟 納米磨粒(SiO?、Al?O?、CeO?等)→ 機械刮除 絡合劑、腐蝕抑制劑、pH調節劑 → 控制反應速度和選擇比 機械部分靠: 拋光墊(Polyurethane材質,有溝槽) 旋轉的拋光頭(Wafer被真空吸住,倒扣在墊子上) 下壓力(Down Force,通常幾psi)
化學讓材料變軟,機械把它刮走,兩者缺一不可。
只化學會腐蝕過度,只機械會嚴重劃傷。
四、CMP設備長什么樣?核心部件逐個講
主流CMP設備:Applied Materials Reflexion LK、Ebara FREX、Lam Research等。
一臺典型12英寸CMP設備結構:
1、4個拋光頭(Head)
每個Head可以獨立加壓、轉速控制,帶著晶圓倒扣在墊子上旋轉。
2、3~4個拋光盤(Platen)
每個盤貼一塊大拋光墊,Platen 1磨銅,Platen 2磨Barrier,Platen 3清洗或Buffing。
大桶漿料 + 管路 + 噴嘴,流量要精確到ml/min。
上面鑲滿金剛石顆粒,實時刮拋光墊表面,防止墊子“釉化”(glazing),保持粗糙度。
電機電流檢測(銅清完后摩擦力變大,電流上升) 光學干涉(激光打到晶圓上,銅和介質反射信號不同) Eddy Current(渦流傳感器,銅厚實時監測,最主流)
兆聲清洗 + 刷洗 + Marangoni干燥,務必把殘留磨粒、漿料徹底洗干凈,否則缺陷爆炸。
五、CMP最難的幾個技術痛點(工藝工程師最頭疼的)
大顆粒、漿料結塊、修墊盤掉金剛石都會造成致命劃傷。
銅線中心下陷(Dishing)、密集區介質磨太多(Erosion),導致電阻上升和可靠性問題。
銅、Ta、磨粒殘留 → 短路、漏電。
銅:Barrier:TEOS的選擇比要幾百:幾:1,否則停不住或者過磨。
中心和邊緣磨除速率差要控制在幾個%以內。
先進節點要求大顆粒(>0.1μm)加起來不超過幾個。
六、銅CMP三步經典工藝(7nm及以上還在用)
Platen 1(Bulk Cu Remove)
高去除率漿料(>5000?/min) 大下壓力 渦流終點,留1000~2000?銅
Platen 2(Soft Landing + Barrier Remove)
低去除率漿料 + 高選擇比 小下壓力,停在Barrier上不傷介質
Platen 3(Buffing + 水拋)
純DI水或極稀漿料 去除表面微劃傷和殘留
七、未來趨勢
極低下壓力(<1psi)拋光 → 防止Low-k介質塌陷 無磨粒漿料(Abrasive-free)→ 減少劃傷 新材料選擇比漿料(Co、Ru、Mo) AI實時終點控制 + 機器學習優化參數 單盤多步工藝(減少設備投資)
總結一句話:CMP看起來就是“磨一磨”,其實是化學、機械、材料、設備、檢測、清洗、缺陷全鏈條最復雜的工藝之一,良率和成本都卡在它手里。真正的CMP大神,是能在劃傷、Dishing、均勻性、缺陷之間找到完美平衡的人。
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